Microscopio de fuerza atómica para la enseñanza
1. Diseño miniaturizado y desmontable, muy fácil de transportar y enseñar.
2. El cabezal de detección láser y la etapa de escaneo de la muestra están integrados, la estructura es muy estable y la resistencia a las interferencias es fuerte.
3. Dispositivo de posicionamiento de sonda de precisión, el ajuste de alineación del punto láser es muy sencillo.
4. El eje único impulsa la muestra para que se acerque automáticamente a la sonda verticalmente, de modo que la punta de la aguja se escanee perpendicularmente a la muestra.
5. El método inteligente de alimentación de aguja de la detección automática de cerámica piezoeléctrica presurizada controlada por motor protege la sonda y la muestra.
6. Posicionamiento óptico automático, sin necesidad de enfocar, observación y posicionamiento en tiempo real del área de escaneo de la muestra de la sonda.
7. Método de amortiguación de impactos mediante suspensión de resorte, simple y práctico, con buen efecto amortiguador.
8. Editor de usuario con corrección no lineal del escáner integrado, caracterización nanométrica y precisión de medición superior al 98%.
Presupuesto:
| Modo de funcionamiento | modo táctil, modo de pulsación |
| Modo opcional | Fuerza de fricción/lateral, amplitud/fase, fuerza magnética/electrostática |
| curva del espectro de fuerza | Curva de fuerza FZ, curva RMS-Z |
| Rango de escaneo XY | 20*20 µm, opcionalmente 50*50 µm, 100*100 µm |
| Rango de escaneo Z | 2,5 µm, opcionalmente 5 µm, 10 µm |
| Resolución de escaneo | Horizontal 0,2 nm, Vertical 0,05 nm |
| Tamaño de la muestra | Φ≤90 mm, H≤20 mm |
| Viaje de muestra de la etapa | 15*15 mm |
| Observación óptica | Lente objetivo óptica 4X/resolución de 2,5 µm |
| Velocidad de escaneo | 0,6 Hz-30 Hz |
| Ángulo de escaneo | 0-360° |
| Entorno operativo | Sistema operativo Windows XP/7/8/10 |
| Interfaz de comunicación | USB 2.0/3.0 |
| Diseño amortiguador | Muelle suspendido |
