Microscopio de fuerza atómica ambientalmente controlado


  • Modo operativo:modo táctil, modo tap
  • Rango de escaneo XY:50*50um, opcional 20*20um, 100*100um
  • Rango de escaneo Z:5um, opcional 2um, 10um
  • Resolución de escaneo:0,2 nm horizontales, 0,05 nm verticales
  • Tamaño de la muestra:Φ≤68mm, H≤20mm
  • Especificación

    1. Diseño integrado de microscopio metalográfico óptico y microscopio de fuerza atómica, funciones potentes

    2. Tiene funciones de imagen de microscopio óptico y microscopio de fuerza atómica, las cuales pueden funcionar al mismo tiempo sin afectarse entre sí

    3. Puede funcionar en un entorno de aire normal, un entorno líquido, un entorno de control de temperatura y un entorno de control de gas inerte al mismo tiempo

    4. La mesa de escaneo de muestras y el cabezal de detección láser están diseñados en un tipo cerrado, y el gas especial se puede llenar y descargar en el interior, sin agregar una cubierta de sellado

    5. La detección láser adopta un diseño de trayectoria óptica vertical y puede funcionar bajo líquido con el soporte de sonda de doble propósito gas-líquido

    6. La muestra de accionamiento de un solo eje se acerca automáticamente a la sonda verticalmente, de modo que la punta de la aguja se escanea perpendicular a la muestra.

    7. El método de alimentación de aguja inteligente de la detección automática de cerámica piezoeléctrica presurizada controlada por motor protege la sonda y la muestra

    8. Sistema de posicionamiento óptico de aumento ultraalto para lograr un posicionamiento preciso de la sonda y el área de escaneo de la muestra

    9. Editor de usuario de corrección no lineal de escáner integrado, caracterización nanométrica y precisión de medición superior al 98%

    Especificaciones:

    Modo operativo modo táctil, modo tap
    Modo opcional Fricción/fuerza lateral, amplitud/fase, fuerza magnética/electrostática
    curva de espectro de fuerza Curva de fuerza FZ, curva RMS-Z
    rango de exploración XY 50*50um, opcional 20*20um, 100*100um
    Rango de escaneo Z 5um, opcional 2um, 10um
    Resolución de escaneo 0,2 nm horizontales, 0,05 nm verticales
    Tamaño de la muestra Φ≤68mm, H≤20mm
    Ejemplo de viaje por etapas 25*25mm
    ocular óptico 10X
    Objetivo óptico Objetivos apocromáticos planos 5X/10X/20X/50X
    método de iluminación Sistema de iluminación LE Kohler
    Enfoque óptico Enfoque manual aproximado
    Cámara Sensor CMOS de 5MP
    mostrar Pantalla plana de 10,1 pulgadas con función de medición relacionada con gráficos
    Equipo de calefacción Rango de control de temperatura: temperatura ambiente ~ 250 ℃ (opcional)
    Plataforma integrada de frío y calor Rango de control de temperatura: -20 ℃ ~ 220 ℃ (opcional)
    Velocidad de escaneo 0,6 Hz-30 Hz
    Ángulo de escaneo 0-360°
    Entorno operativo Sistema operativo Windows XP/7/8/10
    Interface de comunicación USB2.0/3.0

    微信截图_20220420171438_副本


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